誕生于20世紀90年(nian)代初的(de)移動測(ce)(ce)(ce)繪技術是測(ce)(ce)(ce)繪界發展最快的(de)領(ling)域之一，其市(shi)場化也(ye)不過(guo)十(shi)多年(nian)。激光雷達探測(ce)(ce)(ce)技術（LiDAR）更以(yi)其主動性（不受自然光影響）、穿透(tou)性、靈活(huo)性（多種搭載方式(shi)）、精準性（mm級）等特(te)點，在移動測(ce)(ce)(ce)繪領(ling)域備受青睞(lai)，結合GPS、GIS、GNNS和CCD技術，滿足各種測(ce)(ce)(ce)繪需要，在農業、林業、城市(shi)建設、工程監(jian)測(ce)(ce)(ce)、資源調查各領(ling)域得到了廣泛應(ying)用。
3D Laser Mapping公司(si)即是(shi)應(ying)這(zhe)種發展趨勢而生的地理空(kong)間技(ji)術與3D測(ce)繪技(ji)術供應(ying)商。自1999年成立以來，一直(zhi)處于(yu)國(guo)際領先地位，其(qi)分(fen)(fen)支機構和(he)分(fen)(fen)銷網絡遍布英國(guo)、南非、美(mei)國(guo)和(he)澳大利(li)亞各國(guo)。3D Laser Mapping公司(si)是(shi)給移(yi)動(dong)(dong)測(ce)繪領域(yu)帶來變革的公司(si)之一，早(zao)在2004年就推出了(le)移(yi)動(dong)(dong)測(ce)繪系統StreetMapper。此(ci)后不斷革新，始終保持(chi)以市場為(wei)導向，持(chi)續滿足客戶需(xu)要(yao)。
2016年5月，在(zai)GeoBusiness展銷(xiao)會上，3D Laser Mapping公司推出(chu)了全新的(de)(de)(de)多平(ping)臺移(yi)動(dong)(dong)測繪系統——Robin。Robin是一(yi)(yi)(yi)個兼備(bei)機載、車載與(yu)徒步(bu)三(san)種(zhong)搭(da)載模式的(de)(de)(de)移(yi)動(dong)(dong)測繪設備(bei)，搭(da)載了12MP（車載）或18MP（徒步(bu)或機載）的(de)(de)(de)相機、2個GNSS天線、GIS級IMU巡航系統、觸控(kong)單元，還(huan)有(you)更大范圍(wei)或更高(gao)精度(du)的(de)(de)(de)版本可選。正如3D Laser Mapping總經理Graham Hunter所說：“Robin是個令人(ren)激動(dong)(dong)的(de)(de)(de)產品，它是一(yi)(yi)(yi)個三(san)合(he)一(yi)(yi)(yi)系統。通過(guo)大范圍(wei)的(de)(de)(de)地面掃描，Robin能(neng)夠從只能(neng)步(bu)行的(de)(de)(de)地區獲取高(gao)質量數據。客(ke)戶們一(yi)(yi)(yi)直在(zai)尋找一(yi)(yi)(yi)種(zhong)能(neng)提供高(gao)回報的(de)(de)(de)靈活(huo)方案，Robin正好提供了這一(yi)(yi)(yi)獨(du)特的(de)(de)(de)價值定位。”
Robin可(ke)以在(zai)機(ji)(ji)載(zai)(zai)（無人飛行器(qi)、直升機(ji)(ji)）、車(che)載(zai)(zai)和徒步(bu)的(de)方式(shi)(shi)下對(dui)地面進(jin)行掃(sao)描和繪制。步(bu)行車(che)載(zai)(zai)模(mo)式(shi)(shi)單元重10kg，機(ji)(ji)載(zai)(zai)模(mo)式(shi)(shi)單元只有6kg。和大多數測(ce)(ce)繪系統不同，Robin可(ke)以從(cong)只能步(bu)行的(de)地方采(cai)集數據，比如羊腸小道、崎嶇的(de)山路或海岸(an)等(deng)。雷(lei)達的(de)最大測(ce)(ce)量范(fan)圍是920m，相對(dui)精(jing)度為5mm。還有兩(liang)種配置模(mo)式(shi)(shi)可(ke)供(gong)選(xuan)擇(ze)：Robin-Wings是機(ji)(ji)載(zai)(zai)模(mo)式(shi)(shi)的(de)高端配置，可(ke)在(zai)1350m高度上保持(chi)10mm的(de)精(jing)度，Robin-Precision可(ke)在(zai)350m處保持(chi)3mm精(jing)度，滿足您更高的(de)科研與測(ce)(ce)繪要求。