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澤泉科技參加第四屆全國玉米生物學學術研討會
日期:2019-04-23 12:19:59
在春意盎然的人間四月天,上海澤泉科技股份有限公司赴河南鄭州,參加了由中國作物學會玉米專業委員會主辦,省部共建小麥玉米作物學國家重點實驗室、河南省糧食作物協同創新中心、河南省農業大學農學院和國家玉米改良(鄭州)分中心共同舉辦的“第四屆全國玉米生物學學術研討會”。會議圍繞玉米遺傳改良、育種等不同主題展開深入的探索與研究,是從事玉米基礎科研與育種人員交流合作的盛會。

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本次大會參會人員以國內科研人員為主,來自河南農業大學、中國農業科學院、中國農業大學、華中農業大學等單位的1000余人與會。會議特別邀請了來自美國內布拉斯加大學林肯分校和佛羅里達大學的玉米研究專家,介紹國外玉米研究的新進展,給國內參會代表帶來了研究的新思路與新方向。同時,包括李建生教授在內的國內玉米研究領域的多位帶頭人也分別進行了多場精彩報告,囊括了玉米基因組、玉米品質的分子育種、玉米果穗等主題,供會場的科研人員和學者頭腦風暴。

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隨著表型組學的飛速發展,關于室內/室外不同尺度的玉米表型研究平臺在大會報告中也一一進行了展示,為關注玉米基因型-表型-育種研究的老師賦予新的技術手段。在現場150余份學術墻報中,澤泉科技發掘了有關于利用先進的視覺傳感器技術與根系分析軟件,分別進行田間性狀采集與根系分析的較好應用。

會議期間,澤泉科技向參會人員展示了瑞士Amphasys花粉(fen)活(huo)力(li)分析儀德國WALZ植物光(guang)(guang)合/熒光(guang)(guang)測量系統德(de)國LemnaTec表型成像(xiang)系統美國CID便攜式測量儀器、物聯網分布式表型監測與分析系統、法國Force-A植(zhi)物多酚測量系(xi)統加(jia)拿大Conviron培養(yang)箱等,特別帶來的全新AmphaTM Z32花粉活力分析儀及植物根系生長監測系統CI-602樣機,引起了參會代表的極大興趣。作為國內涉足植物表型技術與服務的專業公司,澤泉科技能為從事基因型-表型-育種的老師提供全方位的服務。澤泉科技向參會代表推薦了全新的物聯網分布式表型監測與分析系統—CropQuant,介紹了在AgriPheno平臺以及中科院遺傳與發育研究所&AgriPheno聯合技術中心開展的植物生理生態、表型、環境測試服務等,吸引了參會人員的極大關注。會議期間,澤泉科技與會的技術人員與新老用戶和感興趣的科研工作者交流了新研究技術及相關設備的使用技巧和心得。會議期間收到多位客戶的詳細咨詢和留言。

本次參會得到了會議主辦方和與會專家的鼎力支持,上海澤泉科技股份有限公司在此表示衷心的感謝。
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