為更好地服務全國的科研用戶，為全國高校、研究所的科研工作提供技術保障，為植物表型科研領域研究人員更深入地了解最新的產品及測量技術，上海澤泉科技股份有限公司將于2016年5月31日至6月6日分別在長沙、武漢、南京和北京四地舉辦2016澤泉科技植物表型技術服務周。會議內容包括AgriPheno?高通量植物表型平臺介紹、葉綠素熒光技術——檢測植物生理狀態的有效探針、表型分析與LemnaTec表型系統的性狀分析的應用、自動取樣與種子質量控制解決方案、生理生態與田間表型分析的光學傳感器應用、整幅圖片的影響力—植物根系分析。
現向全國高校、研究所科研人員發出誠摯邀請，期待您的光臨！上海澤泉科技股份有限公司將攜手LEMNATEC、 ALCI、 Force-A、 Phenotyping Screening走進實驗室，竭誠為您服務，期待與您的交流與合作。
會議日程：
參會須知：
1、參會回執：請參會人員于5月27日前將參會回執（附件1）通過電子郵件發送至郵箱：alice.，或傳真發至。
2、會議費用：參會免費。交通、食宿、旅游費用自理。
會務組聯系方式：
1、 參會回執接收郵箱：alice.；參會回執接收傳真：
2、長沙會場會務聯系人：胡靜，聯系方式：
3、 武漢南京會場會務聯系人：陳登科，聯系方式：
4、北京會場會務聯系人：王海鋒，聯系方式：
附件：
2016年5月23日