| X射線熒(ying)光(guang)（X-ray fluorescence，XRF）是(shi)用高能(neng)量(liang)X射線或伽瑪射線轟(hong)擊(ji)材料時激發出的(de)次(ci)級X射線，是(shi)一種(zhong)快速的(de)、非破壞式(shi)的(de)物質測量(liang)方(fang)法。X射線熒(ying)光(guang)技術可以(yi)(yi)檢測植物體(ti)(ti)內(nei)(nei)大(da)部分(fen)元(yuan)素的(de)分(fen)布信息(xi)，植物體(ti)(ti)內(nei)(nei)某些礦質營養元(yuan)素的(de)組(zu)織分(fen)布可以(yi)(yi)反映元(yuan)素的(de)運(yun)輸和利用特(te)點。X射線熒(ying)光(guang)顯微(wei)鏡XROS MF30可作(zuo)為研究植物體(ti)(ti)內(nei)(nei)微(wei)量(liang)元(yuan)素的(de)分(fen)布和遷移特(te)點的(de)重要(yao)工具。 |  |
測量(liang)原理
試(shi)樣受X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)照射(she)(she)(she)后，其(qi)(qi)中(zhong)(zhong)(zhong)各(ge)元(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)素(su)(su)原子(zi)(zi)的(de)(de)內(nei)殼層(ceng) ，其(qi)(qi)中(zhong)(zhong)(zhong)各(ge)元(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)素(su)(su)原子(zi)(zi)的(de)(de)內(nei)殼層(ceng)（K，L或M層(ceng)）電(dian)子(zi)(zi)被激發逐(zhu)出(chu)原子(zi)(zi)而引(yin)起電(dian)子(zi)(zi)躍(yue)(yue)遷(qian) 電(dian)子(zi)(zi)被激發逐(zhu)出(chu)原子(zi)(zi)而引(yin)起電(dian)子(zi)(zi)躍(yue)(yue)遷(qian)，并發射(she)(she)(she)出(chu)該(gai)(gai)(gai)(gai)元(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)素(su)(su)的(de)(de)特征X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)熒光。每一(yi)種(zhong)元(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)素(su)(su)都(dou)有其(qi)(qi)特定(ding)波長的(de)(de)特征X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)。通(tong)過(guo)測定(ding)試(shi)樣中(zhong)(zhong)(zhong)特征X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)波長，便(bian)可(ke)確定(ding)存在何(he)種(zhong)元(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)素(su)(su)，即(ji)為X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)熒光光譜定(ding)性分(fen)析(xi)。元(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)素(su)(su)特征X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)強度(du)與該(gai)(gai)(gai)(gai)元(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)素(su)(su)在試(shi)樣中(zhong)(zhong)(zhong)的(de)(de)原子(zi)(zi)數量(liang)(liang)（即(ji)含(han)量(liang)(liang)）成比例，因此(ci)，通(tong)過(guo)測量(liang)(liang)試(shi)樣中(zhong)(zhong)(zhong)某(mou)元(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)素(su)(su)特征X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)強度(du)，采用適當的(de)(de)方法(fa)進行校準與校正，便(bian)可(ke)求出(chu)該(gai)(gai)(gai)(gai)元(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)素(su)(su)在 ，便(bian)可(ke)求出(chu)該(gai)(gai)(gai)(gai)元(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)素(su)(su)在試(shi)樣中(zhong)(zhong)(zhong)的(de)(de)百分(fen)含(han)量(liang)(liang)，即(ji)為X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)熒光光譜定(ding)量(liang)(liang)分(fen)析(xi)。
1.微(wei)焦(jiao)X射線管2.狹縫(feng)和主過(guo)濾器更換器3. 多(duo)毛細(xi)管光學透鏡(jing)4.樣品5. XY工作臺
6.照明器7.數碼(ma)顯(xian)微鏡8.半導體能量分散(san)探(tan)測器9.點光電二極管/ CCD10.測量室11.鏡子
主(zhu)要(yao)參數
參數類型 | 參數值 |
元素范(fan)圍 | 11Na (Kа) –92U (Lа) |
能量范圍 | 1 – 40 keV |
MnKα的能量分辨率 | <140 eV, at 50 000 cps |
物體尺寸(cun) | 0,03*0,03mm – 150*150 mm, Z軸(zhou)可達10cm |
XY工作臺的(de)精度 | 10 um |
TubeHV | till 45 kV |
最(zui)大功率 | 500 W |
自動(dong)過(guo)濾器(qi)更(geng)換器(qi) | 鋯Zr,鈦Ti,鉬Mo,銀Ag,鋁Al,銅Cu,氯Cl |
重量(liang) | 85kg |
尺寸 | 665х615х650mm |
技術規格
光束源 |
? X射線管(guan)：最大電壓50千伏(fu)，最大功率500瓦，陽極材料Mo，另根據要求 ? 多毛(mao)細管透鏡：具有可變(bian)尺寸的光(guang)，用于X射(she)線波束(shu)成形束(shu)，X射線束直徑30-1000μm ? 主光(guang)束濾波器：Zr，Ti，Mo，Ag，Al，Cu，Cl |
光學電(dian)子顯微鏡(jing) |
? 最(zui)大變(bian)焦(jiao)：200х |
樣本定(ding)位(wei)和映(ying)射 |
? 攝像(xiang)機選擇分(fen)析(xi)區域 ? 光學(xue)顯微鏡結合X射線探頭的軸來控制分析(xi)區域 ? 樣品和探針移動系(xi)統 2 用于(yu)選擇工作距離的自動化系(xi)統；分析單元沿Z軸移(yi)動，Z定位(wei)精度12μm 2 自(zi)動化(hua)平臺：用于(yu)XY軸對象定(ding)位和(he)在用戶定(ding)義的樣(yang)本(ben)區(qu)域上掃描，XY定位精(jing)度10μm 2 掃描最大(da)面積(ji)：150x150 mm 2 樣(yang)本最大尺寸：300х210х100 mm 2 樣本最(zui)大重量：1kg |
X射線熒光分(fen)析 -用于局部元素分析的能(neng)量色(se)散半導體(ti)探測(ce)器 |
硅漂移探測器（SDD） ? 探測(ce)器在Mn Kα上的(de)能量(liang)分辨率 :<150 eV ? 光譜(pu)范圍(wei):1-40 keV ? 最大計數率:1 000 000 pps ? 濃度范圍:從1 ppm到100％ |
軟件 |
? 控制系統：控制微探針顯微鏡、高壓發生器模式、樣品和光束定位(wei) ? 局(ju)部元(yuan)(yuan)素(su)(su)分析(xi)和(he)元(yuan)(yuan)素(su)(su)映射：使用單(dan)一(yi)認證樣(yang)品(pin)(pin)進行校準(zhun)(zhun)；幾個標準(zhun)(zhun)樣(yang)品(pin)(pin)校準(zhun)(zhun)曲(qu)線；確定(ding)(ding)(ding)特(te)征線的(de)(de)能量和(he)強度(du)；定(ding)(ding)(ding)性和(he)半定(ding)(ding)(ding)量分析(xi)（基本(ben)參(can)數法(fa)）；光(guang)(guang)譜(pu)比(bi)較(jiao)和(he)搜索光(guang)(guang)譜(pu)庫中的(de)(de)類似物(wu)；用戶定(ding)(ding)(ding)義(yi)的(de)(de)樣(yang)本(ben)區(qu)域的(de)(de)元(yuan)(yuan)素(su)(su)映射；光(guang)(guang)譜(pu)和(he)映射結果存儲到數據(ju)文件；比(bi)較(jiao)，減法(fa)，存儲光(guang)(guang)譜(pu)的(de)(de)歸一(yi)化(hua)；疊(die)加光(guang)(guang)譜(pu)映射光(guang)(guang)學和(he)射線照相(xiang)圖像上(shang)的(de)(de)圖像結果；在用戶定(ding)(ding)(ding)義(yi)的(de)(de)樣(yang)本(ben)點進行自動(dong)分析(xi) ? 射線(xian)照相：數字化的亮(liang)度和(he)對比度控制(zhi)；縮放；測量(liang)圖像(xiang)點之(zhi)間的距離 ? 記錄和數據(ju)存(cun)儲：將圖像存(cun)儲在(zai)數據(ju)庫中；保存(cun)測量結果并導出到其他Windows程序；數字化圖像(xiang)記(ji)錄到外部(bu)媒體；圖像(xiang)和協議打印 |
真(zhen)空(kong)和冷(leng)卻系(xi)統 |
? 真(zhen)空(kong)室：分析單(dan)元(yuan)的組成部分，帶有真(zhen)空(kong)泵，用于(yu)輕(qing)元(yuan)素分析 ? 內置冷(leng)卻系統：用于X射線(xian)管 |
附(fu)加零件和配件 |
? 控制(zhi)工作(zuo)站：英(ying)特爾?酷睿?i7，操作(zuo)系統Windows 10，RAM 8Gb，HDD 1 Tb，24英(ying)寸顯示器 ? 校準(zhun)樣品(pin) ? 備(bei)件(jian)和消耗品 |
外形(xing)尺(chi)寸 |
? 分(fen)析模塊(kuai)尺寸（長хWхH）：665х615х650mm ? 重量(liang)（不(bu)含冷(leng)卻介質）：85kg |
應用(yong)案例(li)
不同類(lei)型種子的X射線熒光(guang)成像分(fen)析(xi)：種子內鈣元素(su)與鉀(jia)元素(su)的分(fen)布(bu)進(jin)行了原位分(fen)析(xi)
茶葉的元素分(fen)布分(fen)析：
應用領域
廣泛(fan)應用(yong)于(yu)地(di)質、冶金、礦山、電子(zi)機(ji)械、石油、化(hua)工、航(hang)(hang)空航(hang)(hang)天材(cai)料(liao)、農業、生態(tai)環境(jing)、建筑材(cai)料(liao)、商檢等(deng)領(ling)域(yu)的材(cai)料(liao)化(hua) 、商檢等(deng)領(ling)域(yu)的材(cai)料(liao)化(hua)學成分(fen)分(fen)析。
